सोलर पैनल टेस्टर सन सिम्युलेटर GIV-20A2616 अवलोकन
The Gsolar GIV-20A2616 सोलर पैनल टेस्टर / सन सिम्युलेटर एक पेशेवर-ग्रेड A+A+A+ क्लास सोलर मॉड्यूल IV टेस्टिंग सिस्टम है जो विभिन्न प्रकार के फोटोवोल्टिक मॉड्यूल के सटीक विद्युत प्रदर्शन माप के लिए डिज़ाइन किया गया है। अधिकतम प्रकाशित क्षेत्र 2600mm x 1600mm और समायोज्य लंबी पल्स अवधि 10ms से 100msके साथ, यह सन सिम्युलेटर क्रिस्टलाइन सिलिकॉन, थिन फिल्म, PERC, HIT, HJT, N-type, IBC, शिंगल्ड, हाफ-सेल और LRF/LHS रिबन-आधारित सोलर मॉड्यूल के लिए अत्यधिक सटीक IV कर्व टेस्टिंग प्रदान करता है।
मालिकाना GSN तकनीकद्वारा संचालित, GIV-20A2616 सिंगल-फ्लैश माप प्राप्त करता है जो उच्च-दक्षता और उच्च-कैपेसिटेंस PV मॉड्यूल में आम कैपेसिटेंस प्रभाव को प्रभावी ढंग से समाप्त करता है, सभी उन्नत सेल तकनीकों में विश्वसनीय और दोहराने योग्य परीक्षण परिणाम सुनिश्चित करता है। यह इसे अगली पीढ़ी के मॉड्यूल का उत्पादन करने वाली आधुनिक सोलर पैनल प्रोडक्शन लाइनों के लिए एक आदर्श परीक्षण समाधान बनाता है।
Ooitech Gsolar GIV-20A2616 सन सिम्युलेटर को 5MW से 1GW क्षमता तक की व्यापक सोलर पैनल प्रोडक्शन लाइन समाधानों के हिस्से के रूप में आपूर्ति करता है। चाहे आप एक नई उत्पादन सुविधा स्थापित कर रहे हों या अपने मौजूदा गुणवत्ता नियंत्रण स्टेशन को अपग्रेड कर रहे हों, यह टेस्टर पेशेवर मॉड्यूल निर्माण के लिए आवश्यक सटीकता और थ्रूपुट प्रदान करता है।
तकनीकी विशिष्टताएँ
मुख्य प्रदर्शन पैरामीटर
| पैरामीटर | विशिष्टता |
|---|
| मॉडल | GIV-20A2616 |
| वर्गीकरण | A+A+A+ क्लास |
| अधिकतम प्रकाशित क्षेत्र | 2600mm x 1600mm |
| लैंप प्रकार | क्सीनन लैंप |
| लैंप जीवनकाल | 60,000 फ्लैश (मानक); 10ms पल्स अवधि पर ≥100,000 फ्लैश |
| स्पेक्ट्रम रेंज | 300-1200nm (1700nm तक बढ़ाया जा सकता है) |
| स्पेक्ट्रम मिलान | 0.875-1.125 (A+ क्लास) |
| प्रकाश तीव्रता सीमा | 700-1200 W/m² |
| विकिरण की अस्थायी अस्थिरता | < 1% (A+ क्लास) |
| विकिरण की असमानता | < 1% (A+ क्लास) |
| पल्स अवधि | 10ms - 100ms, 10ms के चरणों में समायोज्य |
| माप प्रकार | सिंगल फ्लैश |
| स्वीप प्रकार | Isc-Voc या Voc-Isc |
| पुनरावृत्ति त्रुटि | < 0.3% 40 निरंतर परीक्षणों पर; < 0.5% 100 निरंतर परीक्षणों पर |
| सनी फेस ओरिएंटेशन | साइडवेज़ |
| एप्लिकेशन मोड | ऑफलाइन |
माप सीमा और रिज़ॉल्यूशन
| पैरामीटर | रेंज | रिज़ॉल्यूशन |
|---|
| वोल्टेज | 1V, 4V, 10V, 70V, 200V | 0.003% |
| करंट | 2A, 4A, 15A, 25A, 40A | 0.003% |
साइकिल टाइम प्रदर्शन
| पल्स अवधि | चक्र समय |
|---|
| 10ms | ≤ 5 सेकंड |
| 100ms | ≤ 30 सेकंड |
कैलिब्रेशन क्षमताएं
| कैलिब्रेशन प्रकार | समर्थित |
|---|
| Pmax कैलिब्रेशन | हाँ |
| Isc कैलिब्रेशन | हाँ |
| Voc कैलिब्रेशन | हाँ |
| मॉड्यूल तापमान कैलिब्रेशन | हाँ |
| आर्द्रता | हाँ |
भौतिक विशिष्टताएँ
| पैरामीटर | विशिष्टता |
|---|
| आयाम | 3000mm x 2000mm x 5030mm |
| बिजली आपूर्ति | 220V ± 10%, 25A, 50Hz |
| मानक कॉन्फ़िगरेशन | टेस्टर + PC + डिस्प्ले स्क्रीन + सॉफ्टवेयर + IR तापमान सेंसर + माउस + कीबोर्ड |
मापे गए पैरामीटर (ऑटो सेव और ऑटो डिस्प्ले)
| क्र.सं. | पैरामीटर | इंडेक्स | ऑटो सेव | ऑटो डिस्प्ले |
|---|
| 1 | I-V कर्व | - | हाँ | हाँ |
| 2 | P-V कर्व | - | हाँ | हाँ |
| 3 | सूर्य की तीव्रता की निगरानी | - | हाँ | हाँ |
| 4 | सन इंटेंसिटी मॉनिटरिंग | शॉर्ट सर्किट करंट | हाँ | हाँ |
| 5 | Isc | ओपन सर्किट वोल्टेज | हाँ | हाँ |
| 6 | Voc | करंट डेंसिटी | हाँ | हाँ |
| 7 | अधिकतम शक्ति | Jsc | हाँ | हाँ |
| 8 | Pmax | दक्षता | हाँ | हाँ |
| 9 | Eff | फिल फैक्टर | हाँ | हाँ |
| 10 | FF | अधिकतम शक्ति पर करंट | हाँ | हाँ |
| 11 | Ipm | अधिकतम शक्ति पर वोल्टेज | हाँ | हाँ |
| 12 | Vpm | सीरीज रेज़िस्टेंस | हाँ | हाँ |
| 13 | Rs | शंट रेज़िस्टेंस | हाँ | हाँ |
| 14 | Rsh | पर्यावरण तापमान | हाँ | हाँ |
| 15 | EnvTemp | रेफरेंस सेल शॉर्ट करंट | हाँ | हाँ |
| 16 | StdIsc | रेफरेंस सेल तापमान | हाँ | हाँ |
| 17 | RCTemp | मॉड्यूल बैक तापमान | हाँ | हाँ |
| 18 | Tmod | अन्य विशिष्ट पैरामीटर | हाँ | हाँ |
कस्टम
| आइटम | आवश्यकता |
|---|
| संचालन तापमान | सुविधा आवश्यकताएं |
| 10-30 C | आदर्श तापमान |
| 25 +/- 2 C | 40-60% RH |
| अधिकतम बिजली खपत | 5 KW |
| रेटेड बिजली खपत | 3 KW |
| संपीड़ित वायु | 0.6-0.8 MPa (800 L/min) |
| अर्थिंग/ग्राउंडिंग | आवश्यक |
| संक्षारक गैस वातावरण | अनुमति नहीं |
तकनीकी लाभ
A+A+A+ श्रेणी मापन उत्कृष्टता
GIV-20A2616 तीनों महत्वपूर्ण मापदंडों: स्पेक्ट्रम मिलान, अस्थायी अस्थिरता और विकिरण की स्थानिक असमानता में उच्चतम A+A+A+ वर्गीकरण प्राप्त करता है। यह सुनिश्चित करता है कि प्रत्येक माप सौर मॉड्यूल परीक्षण सटीकता के लिए सबसे कठोर अंतरराष्ट्रीय मानकों को पूरा करता है और उससे आगे बढ़ता है।
उच्च-धारिता मॉड्यूल परीक्षण के लिए GSN तकनीक
मालिकाना GSN तकनीक 10ms से 100ms तक समायोज्य पल्स अवधि के साथ एकल-फ्लैश मापन सक्षम करती है। यह प्रभावी रूप से धारिता प्रभाव को समाप्त करती है जो PERC, N-प्रकार, IBC और HJT कोशिकाओं जैसे उच्च-दक्षता मॉड्यूल में गलत रीडिंग का कारण बनता है। विशेष रूप से HJT मॉड्यूल के लिए, 30ms पल्स अवधि अत्यधिक सटीक IV गुण माप प्रदान करती है, जो आधुनिक PV निर्माण में सबसे चुनौतीपूर्ण परीक्षण आवश्यकताओं में से एक को हल करती है।
विस्तारित स्पेक्ट्रम कवरेज
300-1200nm के मानक स्पेक्ट्रम रेंज और 1700nm तक विस्तार के विकल्प के साथ, GIV-20A2616 व्यावहारिक रूप से सभी फोटोवोल्टिक प्रौद्योगिकियों की परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करता है, जिसमें उन्नत पतली-फिल्म और हेटरोजंक्शन मॉड्यूल शामिल हैं जिन्हें व्यापक स्पेक्ट्रल कवरेज की आवश्यकता होती है।
अति-उच्च पुनरावृत्ति क्षमता
पुनरावृत्ति त्रुटि 40 निरंतर परीक्षणों में 0.3% से नीचे और 100 निरंतर परीक्षणों में 0.5% से नीचे रखी जाती है, जो उच्च-मात्रा उत्पादन रन के दौरान सुसंगत और विश्वसनीय गुणवत्ता नियंत्रण सुनिश्चित करती है।
व्यापक सॉफ्टवेयर प्लेटफॉर्म
बहु-स्तरीय पहुंच नियंत्रण: QC कर्मियों, ऑपरेटरों, तकनीशियनों और रखरखाव कर्मचारियों के लिए अलग-अलग लॉगिन खाते, प्रत्येक भूमिका के लिए अनुकूलन योग्य अनुमति सेटिंग्स के साथ
उन्नत मॉड्यूल वर्गीकरण: Pmax, दक्षता, Imax, I-Id या मापदंडों के किसी भी संयोजन के आधार पर मॉड्यूल को स्वचालित रूप से विभिन्न ग्रेड में सॉर्ट करें
लचीला डेटा निर्यात: MDB, CSV और JPG प्रारूपों के लिए समर्थन, कैलिब्रेटेड और मूल माप डेटा दोनों को सहेजने की क्षमता के साथ
रीयल-टाइम मॉनिटरिंग: परीक्षण प्रक्रिया के दौरान लाइव प्रकाश तीव्रता निगरानी सुसंगत परीक्षण स्थितियों को सुनिश्चित करती है
तेज थ्रूपुट के साथ बड़ा परीक्षण क्षेत्र
2600mm x 1600mm का प्रकाशित क्षेत्र सभी मानक और बड़े प्रारूप वाले सौर मॉड्यूल को समायोजित करता है। 10ms पल्स अवधि पर 5 सेकंड जितने कम चक्र समय के साथ, सिस्टम माप गुणवत्ता से समझौता किए बिना उच्च-थ्रूपुट उत्पादन लाइन आवश्यकताओं का समर्थन करता है।
सार्वभौमिक मॉड्यूल अनुकूलता
GIV-20A2616 को क्रिस्टलीय सिलिकॉन, पतली फिल्म, PERC, HIT, HJT, N-प्रकार, IBC, TOPCon, शिंगल्ड, हाफ-सेल और उच्च-पारदर्शिता EVA, LRF रिबन और LHS रिबन कॉन्फ़िगरेशन का उपयोग करने वाले मॉड्यूल सहित सौर मॉड्यूल प्रौद्योगिकियों के पूर्ण स्पेक्ट्रम का परीक्षण करने के लिए इंजीनियर किया गया है।
लंबी क्सीनन लैंप आयु
क्सीनन लैंप 10ms पल्स अवधि पर 100,000 फ्लैश तक प्रदान करता है, जो उपकरण के जीवनकाल में उपभोग्य सामग्रियों की लागत और रखरखाव डाउनटाइम को काफी कम करता है।
उत्पाद अनुप्रयोग
सौर पैनल उत्पादन लाइन गुणवत्ता नियंत्रण
GIV-20A2616 5MW से 1GW क्षमता वाली सौर पैनल निर्माण लाइनों में आवश्यक अंतिम-चरण गुणवत्ता नियंत्रण स्टेशन के रूप में कार्य करता है। यह सटीक विद्युत प्रदर्शन सत्यापन प्रदान करता है ताकि यह सुनिश्चित हो सके कि उत्पादन लाइन से निकलने वाला प्रत्येक मॉड्यूल निर्दिष्ट बिजली उत्पादन और दक्षता रेटिंग को पूरा करता है। M6, M10, M12 और अन्य सेल प्रारूपों का निर्माण करने वाली उत्पादन सुविधाएं सटीक पावर बिनिंग और मॉड्यूल वर्गीकरण के लिए इस परीक्षक पर निर्भर करती हैं।
उच्च-दक्षता मॉड्यूल निर्माण
GSN तकनीक और लंबी पल्स क्षमता के साथ, यह सन सिम्युलेटर विशेष रूप से PERC, TOPCon, HJT, IBC, ABC और HPBC प्रौद्योगिकियों सहित अगली पीढ़ी के उच्च-दक्षता मॉड्यूल का निर्माण करने वाली उत्पादन लाइनों के लिए अनुकूलित है। 10ms से 100ms तक समायोज्य पल्स अवधि सेल प्रौद्योगिकी की धारिता विशेषताओं की परवाह किए बिना सटीक रीडिंग सुनिश्चित करती है।
शिंगल्ड और हाफ-सेल मॉड्यूल उत्पादन
सिस्टम शिंगल्ड मॉड्यूल और हाफ-सेल कॉन्फ़िगरेशन सहित उन्नत मॉड्यूल आर्किटेक्चर के लिए सटीक परीक्षण प्रदान करता है। ये मॉड्यूल डिज़ाइन अपने अंतर्संबंध विधियों के कारण अद्वितीय परीक्षण चुनौतियां प्रस्तुत करते हैं, और GIV-20A2616 की लचीली माप क्षमताएं सटीक IV लक्षण वर्णन सुनिश्चित करती हैं।
पतली फिल्म और BIPV मॉड्यूल परीक्षण
1700nm तक विस्तार योग्य स्पेक्ट्रम रेंज के साथ, GIV-20A2616 CIGS और CdTe मॉड्यूल सहित पतली फिल्म प्रौद्योगिकियों, साथ ही बिल्डिंग-इंटीग्रेटेड फोटोवोल्टिक (BIPV) उत्पादों को समायोजित करता है जो गैर-मानक मॉड्यूल प्रारूपों का उपयोग कर सकते हैं।
अनुसंधान और विकास प्रयोगशालाएं
नई सेल प्रौद्योगिकियों और मॉड्यूल कॉन्फ़िगरेशन विकसित करने वाली R&D सुविधाएं उच्च माप रिज़ॉल्यूशन (वोल्टेज और करंट दोनों के लिए 0.003%) और व्यापक पैरामीटर आउटपुट से लाभान्वित होती हैं, जो उत्पाद विकास और अनुकूलन के लिए विस्तृत विद्युत लक्षण वर्णन डेटा प्रदान करती हैं।
तृतीय-पक्ष परीक्षण और प्रमाणन
स्वतंत्र परीक्षण प्रयोगशालाएं और प्रमाणन निकाय अंतरराष्ट्रीय परीक्षण मानकों के अनुपालन में विश्वसनीय मॉड्यूल प्रदर्शन मूल्यांकन करने के लिए A+A+A+ श्रेणी की सटीकता और व्यापक अंशांकन क्षमताओं का उपयोग कर सकते हैं।
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